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          瞿晓铧£ºPERC组件的LeTID问题不可忽视£¡

          2019-02-19 14:35
          来源£º 阿特斯

          今年1月初£¬阿特斯集团公司发布新闻宣布£¬我们已经成功向全球市场累计交付2£®6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC组件¡£这是阿特斯在开发和提供高效率¡¢高质量¡¢高附加值太阳能组件产品方面不断努力£¬并取得突破性成果的一个重要里程碑¡£

          LeTID £¨Lightand elevated Temperature Induced Degradation£©£¬业界称为¡°光照和高温诱导衰减?#20445;?#25110;者叫¡°光热衰减?#34180;?#21517;称?#34892;?#25303;口£¬但?#20405;?#24471;大家花些时间去了解它£¬因为它会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能¡£

          光伏行业对LID£¨Light Induced Degradation£©£¬也就是¡°光致衰减¡±现象已经很了解¡£通常情况下£¬只要光伏组件暴露在阳光下就会发生LID£¨光致衰减£©£¬在短时间£¨几天或几周£©内就能达到饱和的衰减¡£行业对于LID£¨光致衰减£©的研究也已经非常充分£¬产生机制?#19981;?#24471;一致认可£¬主要是硅材料内的硼氧缺陷¡£因为晶体生长方法的差异£¬单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶£¬从而LID衰减也远高于多晶¡£两到三年前PERC技术的推广还受限于LID£¨光致衰减£©£¬随着抗LID衰减技术的突破使LID得到比较?#34892;?#30340;控制£¬加之设备的广泛应用£¬PERC技术得?#28304;?#35268;模导入¡£

          ?#27426;øLeTID衰减机制不同£¬它通常发生在光照和高温£¨£¾ 50¡ãC£©两个条件同时满足的情况下£¬并且LeTID对于PERC组件的发电量影响很大¡£PERC组件在实验室的测试条件和电站?#23548;?#24037;作环境中都存在LeTID£¨光热衰减£©现象¡£在组件工作温度超过50¡ãC?#20445;?#19981;论是单晶还是多晶PERC组件都会发生LeTID£¨光热衰减£©£¬衰减?#39318;?#39640;可达10£¥¡£

          阿特斯技术研发团队通过多年对材料¡¢工艺和生产设备的长期深入研究£¬开发出了具有自主知识产权的LeTID控制技术¡£这使得阿特斯成为少数几家掌握了在大规模生产过程中降低和控制LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一¡£

          新南威尔?#30475;?#23398;£¨Universityof New South Wales£¬简称 UNSW£© 2018年11月发布的?#29615;?#30740;究报告显示£¬阿特斯基于黑硅和多晶PERC技术的P4组件的开路电压£¨Voc£©在166小时的辐照¡¢75¡ãC测试条件下£¬只有0£®3£¥的衰减¡£这个测试结果佐证了阿特斯P4组件优异的抗LeTID衰减性能¡£

          所以下次当您再购买PERC太阳能组件?#20445;?#26080;论单晶还是多晶£¬请务必先了解制造商对LeTID的重视和了解程度¡£同时可以问问他们如何控制和解决LeTID问题£¬并请他们向您展示一些可信的第三方测试报告¡£几年后你将会为此感到庆幸¡£

          声明£º 本文系OFweek根据授权转载?#20113;?#23427;媒体或授权刊载£¬目的在于信息传递£¬并不代表本站赞同其观点和?#20113;?#30495;实性负责£¬如有新闻稿件和?#35745;?#20316;品的内容¡¢版权以及其它问题的£¬请联系我们¡£

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